Eventi e News
Workshop test funzionale abbinato a boundary scan
11/06/2015Milano, 18 giungo 2014
In collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, IPSES ha organizzato un workshop su test funzionale abbinato al test boundary scan.
NI-Day 2013
11/06/2015Milano, 27 febbraio 2013
Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.
Focus embedded 2011
11/06/2015Milano 15 novembre 2011
Nona edizione della mostra convegno Focus Embedded.
