11/05/2015
WORKSHOP sul test Boundary Scan presso il Politecnico di Milano
Martedì 23 giugno 2105 , IPSES e XJTAG terranno un workshop gratuito di un giorno sulla tecnologia di testing boundary scan che si svolgerà presso il Politecnico di Milano – campus di Bovisa, Dipartimento di Energetica di via Lambruschini 4a.
Martedì 23 giugno 2105 , IPSES e XJTAG terranno un workshop gratuito di un giorno sulla tecnologia di testing boundary scan che si svolgerà presso il Politecnico di Milano – campus di Bovisa, Dipartimento di Energetica di via Lambruschini 4a.
Il Boundary scan JTAG è una tecnologia estremamente affidabile progettata per far fronte ai problemi legati all’accesso fisico di componenti complessi su schede elettroniche di densità medio-alta.
Le applicazioni tipicamente associate al JTAG sono i test di interconnesione e la programmazione in system. Tuttavia tale tecnologia offre molto di più: l’utilizzo di XJTAG, infatti, accelera in maniera significativa la progettazione di schede elettroniche, migliorando il test non solo in produzione, dove offre un’eccellente copertura nella validazione finale, ma anche durante tutte le fasi di sviluppo e il debug della scheda, permettendo una precoce diagnostica di problemi.
Il seminario pratico permetterà di conoscere le funzionalità della metodologia di testing, valutandone l’efficacia sia durante la progettazione di schede elettroniche, sia durante la produzione.
