11/06/2015
Workshop test funzionale abbinato a boundary scan
Milano, 18 giungo 2014
In collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, IPSES ha organizzato un workshop su test funzionale abbinato al test boundary scan.
Milano, 18 giungo 2014
In collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, IPSES ha organizzato un workshop su test funzionale abbinato al test boundary scan.
Questo workshop ha mostrato le potenzialità di un approccio integrato funzionale-boudary nel campo del testing e come sia possibile unire le due tecniche in un'unica stazione di test con una sola interfaccia utente. Il Workshop si è tenuto presso il Centro Direzionale di National Insturments di Milanofiori Nord - Assago - Milano.
