Soluzione di test basata su boundary scan XJTAG per il test di board complesse ad alta densità

XJTAG ha pubblicato il case study sull'applicazione che IPSES ha sviluppato per Linkra, utilizzando il boundary scan XJTAG per il test di board complesse con più di 20.000 punti di saldature e circa 5.500 net di connessione. L'impiego del boundary scan XJTAG consente infatti di testare un altissimo numero di connessioni e componenti, inclusi dispositivi non JTAG, con un ridotto numero di connessioni fisiche verso la board. IPSES ha quindi sviluppato un'applicazione estremamente efficace contenendo costi e tempi di sviluppo. Il case studycompleto può essere letto o scaricato dai link sottostanti.

L'articolo è stato pubblicato anche dalla rivista americana US-TECH nel numero di settembe 2013, Pag. 79

Informazioni addizionali

US TECH - 09/2013 - Pag. 79

http://content.yudu.com/A2ecjc/USTSEP13/resources/index.htm?referrerUrl=http%3A%2F%2Fwww.us-tech.com%2FRelId%2F700200%2FISvars%2Fdefault%2FDIGITAL_EDITION.htm