Sistemi Integrati per test funzionale e boundary scan
Piattaforme e sequenze di test integrati funzionali e Boundary Scan: un approccio nuovo per una massima affidabilità ed efficacia.
Il testing integrato è l’ideale nel caso di schede elettroniche a media e alta densità, elevata complessità di componenti elettronici, alto numero di componenti digitali e difficoltà di accesso ai probe fisici.
In questo modo si riesce a verificare il corretto funzionamento della scheda dal punto di vista funzionale, la correttezza dei componenti e loro interconnessione e si possono testare sia parti digitali, sia parti analogiche.
Tramite piattaforme aperte, scalabili e riconfigurabili, sia hardware, sia software, si possono avere sistemi di test integrati in tempi rapidi e a costi competitivi, rispondendo alle necessità di mercato che spingono le aziende a rilasciare prodotti complessi in tempi sempre più ridotti.
TESTING FUNZIONALE E BOUNDARY SCAN INTEGRATI: VANTAGGI
Copertura vicendevole di aree in cui sarebbero carenti
- Copertura quasi totale di tutti i circuiti del DUT sia digitali, sia analogici e di tutte le net
Aumento dell’affidabilità ed efficacia
- Facendo interagire le due tecniche si possono creare condizioni di test favorevoli che altrimenti sarebbe impossibile avere
Elevate prestazioni di programmazione in-system
- Gli algoritmi XJTAG permettono una semplice e veloce programmazione di una vasta gamma di dispostivi
Diagnostica dei guasti migliore
- Unica reportistica integrata
Pubblicazioni
Il test boundary scan abbinato al test funzionale: un approccio integrato con singola interfaccia
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