Eventi e News

Un passo concreto verso l'autosufficienza energetica

Italian LabVIEW User Group e Seminario AI for Test

Vi aspettiamo agli NI Days di Milano

NI Days technical speech Test solutions Ai TestStand LabView

IPSES parteciperà alla Fiera A&T Torino 2026

Due NI LabVIEW Champion nel nostro team

Manca poco allo User Group Italiano di LabVIEW 2025!

Webinar Pratico Gratuito XJTAG

IPSES con XJTAG organizza  webinar tecnici sul boundary scan. Per partecipare al prossimo evento live o iscriversi a un webinar on demand collegati qui XJTAG . Il corso è gratuito e i posti sono limitati

IPSES All'aerospace and defence forum 2019

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IPSES all'NI AUTOMOTIVE FORUM 2019

IPSES esporrà al prossimo NI Automotive forum, l’evento dedicato alle aziende e ai professionisti nel settore Automotive che si terrà a Bologna, presso l'Unaway Congress Hotel Bologna San Lazzaro l'11 giugno.

XJTAG e IPSES organizzano un Workshop su test funzionale abbinato a Boundary Scan

Mercoledì 6 febbraio, XJTAG e il suo partner tecnologico IPSES terranno un workshop gratuito di un giorno sui benefici dell’integrazione  di test boundary scan e test funzionale. Il workshop ,organizzato in collaborazione con National Instruments Italia, si svolgerà, presso il Centro Direzionale di National Insturments di Milanofiori Nord-Assago a Milano. Giunto alla sua terza edizione, l’evento si focalizzerà sull’uso combinato di boundary scan JTAG e test funzionale in un’unica stazione di test, mostrando come l’integrazione porti a notevoli e concreti vantaggi aumentando l’affidabilità e l’efficacia del test  e riducendone i costi.

IPSES all'INDUSTRY SUMMIT 2018 DI NI

Il prossimo 8 novembre 2018 partecipa all'Industry Summit di National Instrument a Milano, l'evento che riunisce esperti e ricercatori nei settori Aerospace, Defence, Transportation ed Embedded.

IPSES all'NIDAYS 2017

Vieni a trovarci al nostro stand 14 novembre 2017 presso Atahotel Expo Fiera di Pero a Milano, l'evento di National Instruments dedicato alla progettazione grafica di sistemi. Saremo presenti insieme al nostro partner Aviogelt anche come AEDI, la nostra partnership tecnologica che combina competenze ed expertise per offrire soluzioni di eccellenza in ambito aerospace & defence, transport ed energy.

IPSES e AVIOGELT all'NI Aerospace & Defense Forum

Vieni a trovarci presso il nostro stand all'NI Aerospace & Defense Forum il prossimo 6 Aprile 2017 a Roma - Appia Park Hotel

NI-Day 2016

Milano,18 Febbraio 2016 Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.

IPSES allo Smarter Testing di National Instruments

Il prossimo 14 Marzo 2017 partecipa al seminario di National Instruments Smarter Testing e assisti alla sessione tecnica di IPSES sul test di Visione mediante la libreria ViTest.

IPSES al AL LabVIEW Developers Days 2016 -Milano 27 ottobre 2016

Assisti al nostro intervento su Gestione testing funzionale con comunicazione RF con LabVIEW e TestStand. Per partecipare e registrarsi gratuitamente visita il sito di National Instruments

IPSES all'NI Automotive forum Torino, Museo dell'Automobile, 9 giugno 2016

IPSES esporrà al prossimo NI Automotive forum, l’evento dedicato alle aziende e ai professionisti nel settore Automotive che si terrà a Torino, presso il museo dell'Automobile il 9 giugno.

IPSES al SPS - Fiera Italiana dell'automazione

Parma 24-26 Maggio 2016. Pad. 2 Stand E032 IPSES con National Insturments parteciperà all'SPS di Parma, la fiera italiana dedicata all'automazione.

WORKSHOP: IL TEST BOUNDARY SCAN INTEGRATO AL TEST FUNZIONALE

Il prossimo 6 aprile 2016 IPSES, in collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, organizza un seminario pratico su test funzionale abbinato al boundary scan.  Il workshop, gratuito e a numero chiuso, permetterà di valutare come le due metodologie di testing possano essere combinate e integrate, migliorando la copertura e l'affidabilità del test di fine produzione rispetto a un approccio separato, riducendo tempi e costi.Il workshop si terrà presso National Instruments -  Centro Direzionale di Milanofiori Nord - Assago- Milano

IPSES vince l'NI Engineering Impact Awards 2016

L'applicazione di IPSES Sistema di test funzionale per schede elettroniche con display a cristalli liquidi basato sulle piattaforme NI PXI, LabVIEW e TestStand è l'applicazione dell'anno all'NI NI Engineering Impact Awards nella categoria Electronics e Semiconductor.

IPSES al LabVIEW Developer Days 2015

Sessione Tecnica di IPSES sul test di Visione  al LabVIEW Developer Day, dedicato a programmatori e sviluppatori di LabVIEW - MILANO 20 Ottobre 2015

NI-Day 2015

Milano, 25 Marzo 2015 Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.

NI-Day 2014

Roma, 5 Marzo 2014 Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.

NI-Day 2013

Milano, 27 febbraio 2013 Forum Tecnologico sulla Progettazione Grafica di Sistemi.

NI-Day 2011

Milano, 23 febbraio 2011 Presentazione dei nostri servizi di sviluppo software e hardware con tool National Instruments.

Electronica 2010

Monaco di Baviera, 9-12 novembre 2010 Presentazione delle nostre nuove schede I/O.

NI-Day 2010

Roma, 24 febbraio 2010 Presentazione della nuova partnership con 6TL.

WORKSHOP sul test Boundary Scan presso il Politecnico di Milano

Martedì 23 giugno 2105 , IPSES e XJTAG terranno un workshop gratuito di un giorno sulla tecnologia di testing boundary scan che si svolgerà presso il Politecnico di Milano – campus di Bovisa, Dipartimento di Energetica di via Lambruschini 4a.

Zuken Innovation World 2015

Bologna, 16 Giugno 2015 Conferenza dedicata al networking, l'apprendimento e la condivisione di idee tecnologiche innovative.

Aerospace and defence forum 2015

Roma, 11 Giugno 2015 Forum dedicato alle nuove tecnologie per il settore aerospaziale e difesa.

DNA Italia 2011

3-5 novembre 2011 - Torino - Lingotto Fiere Salone del Progetto, delle Tecnologie, del Marketing e della Comunicazione per la tutela e la valorizzazione del Patrimonio

Workshop test funzionale abbinato a boundary scan

Milano, 18 giungo 2014 In collaborazione con National Instruments Italia e XJTAG, IPSES ha organizzato un workshop su test funzionale abbinato al test boundary scan.

Focus embedded 2011

Milano 15 novembre 2011 Nona edizione della mostra convegno Focus Embedded.

Automotive forum 2014

Turin, 29th May 2014 Forum dedicated to the technologies for testing and validation of systems in the automotive sector.